आण्विक बल सूक्ष्मदर्शक यंत्र

विकिपीडिया, मुक्‍त ज्ञानकोशातून
काचेच्या पृष्ठभागाचे स्थलाकृतिक प्रतिबिंब

आण्विक बल सूक्ष्मदर्शक यंत्र (इंग्लिश: Atomic force microscope, अटॉमिक फोर्स मायक्रोस्कोप ; इंग्लिश लघुरूप: AFM, एएफएम), अर्थात क्रमवीक्षण बल सूक्ष्मदर्शक यंत्र (इंग्लिश: Scanning force microscope, स्कॅनिंग फोर्स मायक्रोस्कोप ; इंग्लिश लघुरूप: SFM, एसएफएम), हे नॅनोमीटरपेक्षाही सूक्ष्म स्तर दाखवू शकणारे एक अति-विभेदनशील सूक्ष्मदर्शक आहे. प्रकाशिक सूक्ष्मदर्शकांच्या तुलनेने याची क्षमता १००० पट अधिक आहे. गेर्ड बिनिश आणि हाइनरिख रोहरर यांनी बनवलेल्या अवलोकन टनेलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्रापासून [१] आण्विक बल सूक्ष्मदर्शक बनवला. त्यासाठी त्यांना इ.स. १९८६ साली नोबेल पुरस्कार मिळाला. बिनिश, कॅल्विन केटक्रिस्तोफ गेर्बर यांनी इ.स. १९८६ साली पहिल्यांदा आण्विक बल सूक्ष्मदर्शक बनवले. आज नॅनोस्तरावर प्रतिबिंबन, मापन व दक्षप्रयोग यांत हे यंत्र महत्त्वपूर्ण भूमिका निभावत आहे. खरे पाहता या यंत्राला सूक्ष्मदर्शक म्हणणे चपखल ठरत नाही, कारण हे यंत्र एका यांत्रिक अन्वेषिकेद्वारे [२] प्रतिबिंब बनवते.

संदर्भ व नोंदी[संपादन]

  1. अवलोकन टनेलिंग सूक्ष्मदर्शक यंत्र (इंग्लिश: Scanning tunneling microscope, स्कॅनिंग टनेलिंग मायक्रोस्कोप ; इंग्लिश लघुरूप: STM, एसटीएम ;)
  2. यांत्रिक अन्वेषिका (इंग्लिश: Probe, प्रोब)


Wiki letter w.svg
कृपया या लेखाचा / विभागाचा विस्तार करण्यास मदत करा.
अधिक माहितीसाठी या लेखाचे चर्चा पान, विस्तार कसा करावा? किंवा इतर विस्तार विनंत्या पाहा.